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福州大学2016博士研究生招生材料科学与工程综合考试大纲

2016-07-05 15:38:30来源：网络

福州大学2016博士研究生招生材料科学与工程综合考试大纲

　　一、考试科目名称: 材料科学与工程综合

　　二、招生学院和专业：材料科学与工程学院

　　材料物理与化学、材料学、材料加工工程

　　基本内容:

　　本科目分为三个模块：1、材料结构;2、波谱分析;3、固体物理B。学生可选择任一模块考试。

　　1、材料结构模块

　　X射线衍射分析

　　物相衍射分析与点阵参数的精确测定：定性、定量分析原理、方法与步骤，点阵参数的精确测定;X射线衍射谱的线形分析; Rietveld精修与从头晶体结构测定;Rietveld方法的相定量分析(多相全谱拟合);宏观应力的X射线衍射测定与分析;织构与极图的测定;薄膜和一维材料的X射线衍射分析;小角X射线散射(SAXS)和小角衍射;扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱分析。

　　TEM电子衍射

　　倒易点阵，倒易矢量及其基本性质;正点阵与倒点阵的指数互换;晶带定律与0层倒易截面;Bragg定律及其几何图解;偏离参量;倒易点阵与电子衍射图的关系;电子衍射的基本公式;单晶、多晶衍射花样形成原理;点阵结构因数的计算;系统消光;倒易点阵的类型;单晶与多晶电子衍射图的分析及标定;晶体的复杂衍射花样分析;两相取向关系的测定与分析。

　　TEM成像

　　TEM中成像的像衬度类型与原理(质厚衬度、衍射衬度、Z衬度及其技术、相位衬度);晶体薄膜的衍射衬度强度理论;缺陷(位错、层错、第二相等)衬度的定性与定量分析;材料的界面及其分析方法：两相界面衬度，包括应变衬度、错配位错、位移条纹、波纹图;弱束暗场成像技术; 高分辨电子显微学相位衬度像的成像原理、成像过程、显微图像的类型和应用。

　　SEM与EPMA分析

　　电子束与样品相互作用产生的主要物理信号、特征及应用;成像原理、二次电子与背散射电子像衬度与分辨率;电子背散射衍射与应用;X射线显微成分分析技术与方法。

　　2、波谱分析模块

　　紫外光谱

　　紫外吸收光谱的基本原理、影响紫外吸收光谱的主要因素、光吸收定律、紫外吸收光谱在定性及定量中的应用、各类有机化合物的紫外特征吸收及紫外光谱的解析、应用。

　　红外光谱

　　红外吸收光谱产生的条件、影响峰位的主要因素、红外吸收光谱的重要区域、各类有机化合物的红外特征吸收及红外光谱的解析、应用。

　　核磁共振光谱

　　核的自旋和核磁共振现象、化学位移的产生和影响化学位移的因素、饱和和驰豫、自旋偶合和分裂。波谱中积分曲线与氢数目、偶合与偶合常数、偶合系统的核磁特征谱图以及一般有机化合物的氢谱解析。

　　质谱

　　质谱的基本方程、质谱的表示法、质谱中的离子类型、质量分离器、离子的断裂机理、离子源的种类、质谱中分子离子峰、碎片离子峰、常见裂解方式、各类有机化合物的质谱特征及解析。

　　有机化合物的四谱综合解析